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admin, auteur/autrice sur Seica Spa - Global supplier of Automatic Test Equipment (ATE) - Page 2 sur 4
Comme chaque année, nous ouvrons nos portes toute une journée pour vous présenter nos nouveautés et sujets techniques d’actualité. Une gamme ESSEMTEC totalement repensée à l’honneur A l’occasion de la première présentation française des 2 nouveautés majeures de ESSEMTEC, les équipes commerciales de SEICA France auront le plaisir de vous présenter la Fox et la Spider, respectivement machine de report et
ENOVA, plateforme de convergence des technologies de l’électronique, de la mesure, de la vision et de l’optique, fédère les acteurs de l’industrie et de la recherche à l’affût de solutions innovantes pour leurs projets de développement et se tiendra pour la 2ème fois à Lyon en 2016. Read more
La nouvelle plateforme ZEVAm de Vitronics Soltec est un système flexible, performant et au prix attractif. Equipée d’un pot Selectwave (buse pour brasage point par point), la ZEVAm offre un éventail impressionnant de procédés et de fonctionnalités qui vont au delà de la productivité et de la flexibilité des systèmes de brasage sélectif d’aujourd’hui. Read more
Annonce de la prochaine journée technique SEICA France qui aura lieu le 25 mars 2015.
SEICA FRANCE PRÉSENTS SUR LE SALON ENOVA TOULOUSE 2015 SEICA aura le plaisir de vous retrouver au salon ENOVA Toulouse du 11 au 12 mars 2015 sur le stand B13. SEICA FRANCE confirme sa participation au salon ENOVA Toulouse 2015; lieu de rencontre mettant en relation les acteurs nationaux en électronique, mesure, vision et optique.
Luca Corli, Commercial Director, interviewed by SMTtoday during Electronica 2014
Chargement en cours… JOURNÉE PORTE OUVERTE DE SEICA LE 25 MARS 2015 A l’occasion du 15 ème anniversaire de Seica, la société vous invite à une journée porte ouverte le 25 mars 2015, au sein de ses locaux, au 20 rue du Maréchal de Lattre de Tassigny à Élancourt (78).Comme chaque année, SEICA FRANCE ouvre
Lors du salon Electronica 2014 Seica a présenté le nouveau Pilot 4D FX platform, l’innovation dans le test de cartes électroniques, comblant le fossé entre les tests in-situ et fonctionnel.
