La gamme Compact est conçue pour répondre aux exigences de la «lean production», avec une attention particulière aux exigences environnementales de la production de cartes électroniques. Elle est ergonomiquement sophistiquée et compétitive au niveau technologique. Elle offre une grande flexibilité, une haute précision de mesure, une grande vitesse de test dans des espaces restreints et en un minimum de points, avec des consommations limitées pour assurer un produit durable.
Les systèmes Compact représentent une solution optimale pour :
Les tests in-situ numériques et analogiques
Les tests fonctionnels numériques et analogiques
Le test boundary scan
La programmation de composants numériques (programmation en ligne de microcontrôleurs, mémoires, …)
Les tests sous haute tension
La gamme COMPACT est caractérisée par la recherche d’optimisation des coûts de test, avec une attention particulière à la réduction d’espace (encombrement et dimensions extérieures), de temps (pour le test) et des pertes en général, accordant toutefois une compatibilité totale avec les programmes de test et les appareils de la gamme STRATEGY.
Tous les systèmes de la gamme COMPACT sont basés sur la Seica VIP plate-forme, complément des instruments ACL d’entrainement et de détection synthétisés et du logiciel de gestion VIVA ; mais si cela est exigé, les systèmes de la gamme COMPACT peuvent aussi être contrôlés par des logiciels alternatifs tels que LabviewTM, LabWindowsTM/CVI et TestStandTM de National Instruments.
Dans le cas de nouvelles exigences en termes de performance et/ou d’ergonomie, Seica peut fournir à un client des solutions COMPACT sur mesure qui intègrent des instruments et des logiciels tiers, ou avec la conception de modules matériels et logiciels dédiés pour répondre aux exigences d’une customisation spécifique.
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