Niveau III : VALIDATE et VALIDATE Plus – Les systèmes fonctionnels

Validate

ValidATE

Conçu pour répondre aux besoins de l’électronique, et prenant également en compte les futures implémentations, le système VALIDATE comprend des solutions de test pour le remplacement de systèmes comme GR179X, GR275X, L200, L300, Schlumberger S7XX et autres. L’architecture ouverte et le modulaire de ses composants matériels et logiciels rend la technologie VALID disponible également dans les solutions VALID MT, pour répondre aux besoins des intégrateurs de systèmes STE ou pour apporter la nouvelle électronique sur anciens testeurs pour remplacer le vieux.

Le ValidATE fournit d’excellentes caractéristiques comme :

  • Test fonctionnel à 25MHz avec un maximum de capacité de 1024 canaux d’I/O
  • Test fonctionnel analogique en parallèle avec une capacité allant jusqu’à 256 canaux d’I/O (testeur par broche)
  • Instrument DSP intégré pour les capteurs d’entraînement et analogique
  • Architecture de routage 3D pour connecter les équipements COTS simultanément
  • Instruments automatisés pour la détection de défauts sur des circuits numériques et analogiques pour SRU
  • Test simultané avec un entraînement  numérique, série et analogique pour validation LRU

ValidATE Plus
Le ValidATE Plus est électriquement le même que le système de ValidATE. L’ergonomie est modifiée pour mieux répondre aux exigences de tests in-situ et fonctionnels combinés, quand un appareil lit-à-clous est plus approprié. Avec la possibilité de vérifier soigneusement toutes les fonctionnalités des circuits numériques, analogiques et des circuits en mode mixte, le ValidATE Plus peut étendre son application aux techniques hors tension,  structurelles et sous tension. Le système combine les meilleures solutions de tests de cartes pour satisfaire la performance, la capacité et la localisation de défauts. Le système bénéficie de toutes les techniques pour réduire les coûts de génération de test, sans affecter la couverture de détection des fautes ou le débit. Les tests structurels hors tension, utilisant les  techniques de jonction et capacitives, sont d’abord utilisés pour isoler les défauts de fabrication simples. Les tests in-situ sous tension, à la fois analogiques et numériques, y compris les extensions aux 1149 techniques de la norme IEEE, sont ensuite déployés à travers les canaux hybrides non-multiplexés du système. Dans le cas échéant, des opérations rapides de programmation de cartes (OBP) peuvent être effectuées. Enfin, la puissance de test fonctionnel peut certifier le fonctionnement de l’unité sous test.