Seica à Productronica : un concentré d’innovation intelligente, de hautes performances et de solutions intégrées.
Son engagement actif auprès de ses clients pour comprendre leurs besoins et leurs défis, associé à une expertise approfondie acquise au fil de décennies d’expérience dans le développement de solutions de test adaptées, a fait de Seica un moteur d’innovation intelligente, capable de fournir des solutions de test intégrées de pointe et hautement performantes. Les visiteurs du stand A1-538 du salon Productronica 2025 à Munich pourront découvrir les dernières solutions de Seica dédiées au test des cartes électroniques, des modules et des semi-conducteurs.
L’automatisation étant devenue un facteur clé dans l’optimisation des processus de fabrication actuels, les capacités avancées de Seica en matière d’automatisation des processus seront présentées lors du salon, marquant ainsi le coup d’envoi officiel des célébrations de son 40e anniversaire, qui aura lieu en 2026.
La solution de test à sonde mobile haut de gamme de SEICA, le Pilot VX, sera présentée avec une plate-forme de conception moderne et repensée, avec des options uniques telles que le FlyPod et le FlyStrain™ et la gestion optimisée du logiciel VIVA. Elle constitue la référence en termes de vitesse et de performances des sondes mobiles et est un atout extrêmement puissant, déployable à chaque étape du cycle de vie accéléré des produits actuels, de la conception à la production en passant par le prototypage.
Le PILOT VX est entièrement automatisé et son architecture mécanique de pointe ainsi que ses contrôleurs de mouvement propriétaires permettent de réduire jusqu’à 50 % le temps de test. Douze têtes de test multifonctions permettent un sondage double face simultané sur 60 points maximum et un matériel de mesure à la pointe de la technologie, avec la possibilité d’alimenter la carte (jusqu’à 2 A par sonde) via les 8 sondes électriques standard, et une nouvelle technique de mesure par micro-ondes offre des performances de test inégalées.
À cela s’ajoute une nouvelle génération de capteurs LED combinant des capteurs visibles et infrarouges dans une seule unité tout-en-un, ou un oscilloscope volant de plus de 750 MHz pour repousser les limites des applications à haute fréquence. La plate-forme logicielle VIVA™ permet de gagner encore plus de temps en permettant la parallélisation de différents types de tests, et des capacités d’analyse intelligentes basées sur les principes de l’intelligence artificielle peuvent optimiser automatiquement le flux de test en temps réel.
Les visiteurs pourront également découvrir deux nouvelles solutions, les derniers ajouts à la plateforme Valid de Seica, réputée pour ses tests fonctionnels et en circuit haute performance via un lit de clous ou un récepteur fixe standard.
Le Valid SL sera présenté dans une ligne de production PCBA entièrement automatisée, avec des modules de chargement/déchargement Seica Automation, un applicateur d’étiquettes et des convoyeurs. Sa conception permet une intégration facile dans des environnements de production à haut volume, offrant flexibilité, économies et productivité accrue. Son architecture sans câble garantit une intégrité et une fiabilité optimales ainsi qu’une maintenance à long terme. Il est équipé de nouvelles cartes de scanner à 128 canaux, permettant des configurations de plus de 4 400 canaux, idéales pour les exigences de test les plus complexes.
La zone de test standard étendue peut être configurée comme un système à un ou deux étages, et son architecture multi-tâches, prise en charge par la nouvelle version du logiciel VIVA™, qui comprend une nouvelle interface opérateur, améliore la convivialité tant pour les programmeurs que pour les opérateurs. L’accès facile aux modules matériels internes du système garantit une excellente ergonomie, rendant les opérations de maintenance simples et efficaces.
Le Valid LR présenté est la dernière génération de la plateforme Seica conçue pour inclure les capacités nécessaires au remplacement des systèmes hérités obsolètes, permettant aux clients d’assurer la continuité des processus de test établis en offrant une compatibilité totale avec les programmes de test. Seica possède une expérience inégalée dans la fourniture de solutions de remplacement des systèmes hérités, avec un succès consolidé dans le remplacement d’ s de nombreuses marques de systèmes de test hérités, permettant aux clients de maintenir un soutien logistique à long terme à des coûts compétitifs.
L’architecture multi-ressources native du Valid LR lui confère la flexibilité et les performances nécessaires à la migration transparente des programmes de test et des équipements existants, combinant la capacité de prendre en charge les technologies plus anciennes avec des outils de pointe hautement performants, qui sont ensuite également disponibles pour le développement de nouveaux programmes de test.
Le VALID LR est conçu pour offrir une évolutivité et des performances élevées, avec une architecture innovante sans câble, prenant en charge jusqu’à 5888 canaux avec un multiplexeur numérique 1:8. Il offre jusqu’à 24 alimentations programmables, garantissant une gestion flexible des tests de mise sous tension. L’interface opérateur intuitive et personnalisable est basée sur un système PLC avec communication OPC-UA pour une intégration transparente dans les environnements de test modernes.
La nouvelle gamme S20 présentée comprend deux solutions dédiées aux tests de semi-conducteurs de puissance. Le S20 IS³ offre une solution de pointe pour tester les dispositifs de puissance discrets, y compris les technologies SiC et GaN. Conçu pour les tests statiques et dynamiques en courant alternatif et continu, il effectue une caractérisation précise et reproductible des paramètres électriques, un processus crucial pour garantir la fiabilité et les performances de composants tels que les IGBT, les MOSFET et les diodes, ce qui en fait un outil essentiel pour la R&D, la production et le contrôle qualité.
Les tests statiques mesurent des paramètres clés tels que la tension à l’état passant (Vce, Vds), le courant de fuite (Ic, Id) et la tension de seuil (Vth), garantissant que le dispositif répond à ses spécifications électriques, tandis que les tests dynamiques évaluent les caractéristiques de commutation, notamment les temps d’activation/désactivation, les temps de montée/descente et les pertes d’énergie, qui sont essentiels pour les applications réelles. En testant à la fois les paramètres statiques et dynamiques, les fabricants peuvent détecter les défaillances potentielles avant que les composants ne soient intégrés dans les systèmes d’alimentation, évitant ainsi des pannes coûteuses sur le terrain tout en certifiant que les dispositifs fonctionneront de manière optimale dans les conditions d’utilisation.
Le S20 IS³ présente une conception compacte et peu encombrante, avec une intégration dans un seul boîtier des tests statiques CC, de grille et dynamiques CA. Le système est configurable, ce qui permet à l’utilisateur d’inclure les modules nécessaires pour effectuer les tests dont il a besoin aujourd’hui, et extensible, ce qui permet d’ajouter d’autres modules pour répondre à de nouvelles exigences de test. Le logiciel intégré de haut niveau, piloté par menus, est convivial, ce qui facilite la configuration des tests, et une série de fonctionnalités, telles que l’oscilloscope intégré, facilitent le processus de débogage et offrent une traçabilité complète des résultats des tests.
Le système de test S20 RTH est conçu pour fournir une caractérisation précise de la résistance thermique (RTH) grâce à des capacités avancées de gestion de l’alimentation et du refroidissement. Dans la conception moderne des alimentations électriques, une attention accrue est accordée à l’efficacité électrique de l’ensemble du système et à la température de jonction des dispositifs à semi-conducteurs. Ce type de test évalue la contrainte thermique exercée sur les dispositifs MOSFET de puissance lorsqu’ils sont utilisés dans des alimentations à découpage.
Grâce à ce calcul et aux caractéristiques physiques du dispositif, il est possible de prédire la température atteinte à l’intérieur de la jonction, ainsi que la marge admissible ou le dissipateur thermique nécessaire pour garantir que le système dispose d’une marge thermique appropriée pendant son fonctionnement. Cette approche est fondamentale, car un calcul correct permet une évaluation plus précise de la durée de vie des composants/dispositifs et garantit un fonctionnement dans la zone de fonctionnement sécurisée.
Le matériel de commutation de puissance de Seica est un élément clé de l’architecture de test, permettant un arrêt contrôlé et programmable du courant de charge qui minimise les oscillations, ce qui permet au système d’effectuer des mesures précises dès 80 µs après l’arrêt du courant élevé. La configuration du banc est évolutive, allant de 2 dispositifs sous test (DUT) à 12 DUT testés en parallèle, en fonction des besoins en termes de débit. La température, le débit et la pression du liquide de refroidissement vers chaque DUT sont automatiquement mesurés et contrôlés par le système, ce qui optimise la stabilité thermique et garantit des mesures fiables.
La purge des liquides de refroidissement est gérée par le système, soit dans un réservoir autonome, soit dans le système de votre usine. Cette fonctionnalité simplifie considérablement les opérations de configuration initiale et peut gérer des températures allant jusqu’à 120 °C et des débits allant jusqu’à 100 l/min.
