Seica a officiellement lancé la série OPERA, sa nouvelle génération de solutions de test conçues pour répondre à la complexité croissante de la fabrication électronique moderne.
À première vue, ce nom semble faire davantage référence à la musique (évoquant la grande tradition de l’opéra italien – Verdi, Rossini, Madame Butterfly…), mais Seica a choisi ce nom, qui est en réalité l’abréviation de « Open Era », pour sa nouvelle génération de solutions de test, car celles-ci sont particulièrement adaptées à « l’ère de l’ouverture » qui caractérise le monde d’aujourd’hui. L’ouverture permet une plus grande personnalisation et innovation, et les systèmes ouverts sont conçus pour être flexibles et adaptables ; en effet, le concept d’« ouverture » est au cœur même des solutions de test de Seica.
Introduit en 1992 puis déposé sous le nom de plateforme VIP™, le concept d’une plateforme logicielle et matérielle centrale associée à une multitude de modules matériels et logiciels a permis de configurer chaque solution de test pour répondre aux besoins spécifiques du client, tout en garantissant une évolutivité pour les besoins futurs. OPERA représente la dernière évolution de cette philosophie, élargissant l’approche de plateforme ouverte de Seica, qui permet l’application de l’ensemble de la technologie de Seica, fruit de décennies d’expérience et d’innovation continue, à toutes nos solutions de test, conçues pour répondre à l’ensemble des exigences de test à toutes les phases du cycle de vie actuel des produits : du prototypage et du lancement de nouveaux produits à la production de masse, en passant par la phase de réparation et de maintenance. La modularité complète des solutions de Seica permet de les configurer en fonction du test et/ou de la tâche requis : test en circuit, test fonctionnel à la mise sous tension, test boundary scan, test LED, tests capacitifs, programmation embarquée. Grâce à son ouverture intrinsèque, OPERA étend encore cette approche de test multitechnologique grâce à la possibilité d’intégrer pleinement des instruments externes pour des tests spécialisés, et à une interopérabilité totale avec une large gamme de logiciels tiers conformes aux normes industrielles.
La nouvelle série OPERA comprend la gamme complète d’architectures de systèmes de test de Seica, dédiées à l’ensemble des exigences variées en matière de test de cartes et de modules électroniques : des cartes de circuits imprimés et des cartes et modules assemblés les plus simples aux plus complexes, en passant par l’électronique et les batteries pour véhicules électriques, les cartes de sondes et les composants de puissance.
Seica possède plus de 30 ans d’expérience dans la conception et le développement de technologies de test à sondes mobiles. Les systèmes Rapid et Pilot représentent la pointe de la technologie en matière de performances de test à sondes mobiles et constituent des atouts extrêmement puissants, déployables dans tous les types de scénarios de fabrication et à chaque étape du cycle de vie accéléré des produits d’aujourd’hui. Grâce à la plateforme ouverte et au concept modulaire de Seica, ces solutions de test à sondes volantes peuvent être configurées pour inclure une vaste gamme de méthodes et de performances de test afin de répondre à tous les types d’exigences de test. Des circuits imprimés de dernière génération, qui intègrent de plus en plus de composants embarqués nécessitant un test en circuit complet, aux cartes électroniques les plus complexes et les plus denses qui peuvent nécessiter une multitude de techniques de test pour atteindre les objectifs de couverture de test.
Les plateformes Compact et Valid de Seica, bien établies pour les tests in-situ et fonctionnels, sont également intégrées à l’architecture OPERA et prennent en charge une large gamme de fixations dans une conception ergonomique polyvalente et évolutive, adaptée aux besoins des environnements de fabrication modernes, qu’il s’agisse de stations de test autonomes ou de solutions entièrement automatisées intégrées directement dans la chaîne de production.
L’architecture de la gamme Compact offre une configurabilité maximale pour répondre aux exigences de test les plus diverses. Développée selon les principes du lean manufacturing, elle est optimisée pour les environnements de production de cartes électroniques où l’efficacité et le débit sont essentiels. Caractérisées par un encombrement réduit et une faible consommation d’énergie, ces solutions sont conçues pour prendre en charge des cadences de production élevées, offrant ainsi une solution de test technologiquement avancée et durable.
La gamme Valid est conçue pour des tests en circuit et fonctionnels haute performance via un « lit à clous » ou un récepteur fixe standard, et est conçue pour une évolutivité et des performances élevées. Les dernières solutions, VALID LR et VALID SL, disposent d’une architecture innovante sans câble, de nouvelles cartes de scan à 128 canaux et sont configurables pour prendre en charge une gamme complète de tests, y compris les tests numériques en circuit, les tests numériques dynamiques, le Boundary-Scan, les tests des LED ainsi que les tests fonctionnels complets.
Le Valid SL est entièrement automatisé, ce qui permet une intégration aisée dans des environnements de production à haut volume. Avec une configuration maximale de plus de 4 400 canaux, il est idéal pour les exigences de test les plus complexes, dans une architecture à tâche unique ou multi-tâches. La grande zone de test standard peut être configurée en système à un ou deux étages, et la nouvelle interface opérateur, incluse dans la dernière version du logiciel VIVA™, optimise la convivialité tant pour les programmeurs que pour les opérateurs. L’accès aisé aux modules matériels internes du système garantit une excellente ergonomie, rendant les opérations de maintenance simples et efficaces.
Tirant pleinement parti du concept de plateforme ouverte, le VALID LR peut être configuré pour offrir des capacités de remplacement des systèmes existants aux clients souhaitant remplacer des systèmes de test qui ne sont plus pris en charge par leurs fabricants d’origine. Seica possède une expérience inégalée dans la fourniture de solutions de remplacement de systèmes existants, avec un palmarès éprouvé dans le remplacement de nombreuses marques de systèmes de test existants, permettant ainsi aux clients de bénéficier d’un soutien logistique à long terme à des coûts compétitifs. L’architecture native multi-ressources du Valid LR lui confère la flexibilité (jusqu’à 5 888 canaux avec un multiplexeur numérique 1:8) et les performances requises pour une migration transparente des programmes de test et des montages existants, en combinant la capacité de prendre en charge les technologies plus anciennes avec des outils de pointe hautement performants, qui sont ensuite également disponibles pour le développement de nouveaux programmes de test
OPERA est livré avec une nouvelle version de la plateforme logicielle VIVA™ qui améliore encore les performances de test et permet une intégration intelligente à toutes les étapes du processus de fabrication du client. La plateforme logicielle offre un flux de travail entièrement guidé pour la création et la validation des programmes de test, soutenu par un processus de débogage automatique intégré qui aide les programmeurs à vérifier rapidement l’exactitude et la robustesse. Des algorithmes d’optimisation intégrés réduisent la durée globale des tests, tandis que des outils statistiques avancés fournissent des informations détaillées sur l’accessibilité physique, la couverture des tests, les performances de production et la stabilité des processus, y compris des indicateurs tels que le CPK, le GR&R et le PPVS.
La solution propose des rapports de test entièrement personnalisables et une interface opérateur configurable, comprenant des boutons, des langues et des messages à l’écran. Elle s’intègre de manière transparente aux environnements logiciels modernes tels que Python, Excel, C, C++, C# et TestStand, et prend en charge une interaction aisée avec des instruments externes.
VIVA relie de manière transparente la collecte de données, la traçabilité, l’interaction avec le MES et les opérations de réparation au sein d’un écosystème numérique unifié, transformant les systèmes de test d’outils autonomes en actifs entièrement connectés et pilotés par les données.
